Дослідження електронної структури графенових нанолистів методом рентгенівської фотоелектронної спектроскопії
DOI:
https://doi.org/10.15330/pcss.16.2.289-292Ключові слова:
: рентгенівська фотоелектронна спектроскопія, електронна структура, графенові нанолисти, окислені графенові нанолистиАнотація
Дослідження графенових нанолистів та окислених графенових нанолистів, було проведене методом рентгенівської фотоелектронної спектроскопії (РФС). На додаток до рентгенівської фотоелектронної спектроскопії зразки досліджували методами скануючої та просвічуючуючщї мікроскопії. Встановлено, що аргонне бомбардування усуває функціональні карбоксильні та епоксидні групи зі зразків. Відсутність емісійних ОKα-смуг в ОГНЛ та ГНЛ пов’язана з видаленням зі зразка кисню в результаті електронного бомбардування при дослідженні зразка методом ультрам‘якої рентгенівської емісійної спектроскопії.
Посилання
[1] K. S. Novoselov, A. K. Geim, S. V. Morozov, D. Jiang, Y. Zhang, S. V. Dubonos, I. V. Grigorieva, A. A. Firsov, Science 306, 666 (2004).
[2] P. Blake, P. D. Brimicombe, R. R. Nair, T. J. Booth, D. Jiang, F. Schedin, et al., Nano Lett. 8(6), 1704 (2008).
[3] L. A. Ponomarenko, F. Schedin, M. I. Katsnelson, R. Yang, E. W. Hill, K. S. Novoselov, A. K. Geim, Science, 320(5874), 356 (2008).
[4] S. Stankovich, D. A. Dikin, G. H. B. Dommett, K. M. Kohlhaas, E. J. Zomney, E. A. Stach, R. D. Piner, S. T. Nguyen, R. S. Ruoff, Nature 442, 282 (2006).
[5] M. D. Stoller, S. Park, Y. Zhu, R. S. Ruoff, Nano Lett. 8, 3498 (2008).
[6] Ilkiv Bogdan, Petrovska Svitlana, Sergiienko Ruslan, Tomai Takaaki, Shibata Etsuro, Nakamura Takashi, Honma Itaru, Zaulychnyy Yaroslav, Journal of Nanoscience and Nanotechnology 12(12), 8913 (2012).
[7] A. Bostwick, J. McChesney, T. Ohta, E. Rotenberg, T. Seyller, K. Horn, Progress in Surface Science 84, 380 (2009).
[8] V. Lee, L. Whittaker, C. Jaye, K. M. Baroudi, D. A. Fischer, S. Banerjee, Chem. Mater. 21, 3905 (2009).
[9] N. A. Vinogradov, K. Schulte, M. L. Ng, A. Mikkelsen, E. Lundgren, N. Martensson, A. B. Preobrajenski, J. Phys. Chem. 115, 9568 (2011).
[10] D. Ferrah, J. Penuelas, C. Bottela, G. Grenet, A. Ouerghi, Surface Science 615, 47 (2013).
[11] A. Siokou, F. Ravani, S. Karakalos, O. Frank, M. Kalbac, C. Galiotis, Applied Surface Science 257, 9785 (2011).
[12] B. Lesiak, L. Stobinski, A. Malolepszy, M. Mazurkiewicz, L. Kövér, J. Tóth, Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena 193, 92 (2014).
[13] W. S. Hummers, R. E. Offeman, J. Am. Chem. Soc. 80(6), 1339 (1958).
[14] S. J. Wang, Y. Geng, Q. Zheng, J.-K. Kim, Carbon 48, 1815 (2010).
[15] H. C. Schniepp, J.-L. Li, M. J. McAllister, H. Sai, M. Herrera-Alonso, D. H. Adamson, R. K. Prud’homme, R. Car, D. A. Saville, I. A. Aksay, J. Phys. Chem. B, 110(17), 8535 (2006).
[2] P. Blake, P. D. Brimicombe, R. R. Nair, T. J. Booth, D. Jiang, F. Schedin, et al., Nano Lett. 8(6), 1704 (2008).
[3] L. A. Ponomarenko, F. Schedin, M. I. Katsnelson, R. Yang, E. W. Hill, K. S. Novoselov, A. K. Geim, Science, 320(5874), 356 (2008).
[4] S. Stankovich, D. A. Dikin, G. H. B. Dommett, K. M. Kohlhaas, E. J. Zomney, E. A. Stach, R. D. Piner, S. T. Nguyen, R. S. Ruoff, Nature 442, 282 (2006).
[5] M. D. Stoller, S. Park, Y. Zhu, R. S. Ruoff, Nano Lett. 8, 3498 (2008).
[6] Ilkiv Bogdan, Petrovska Svitlana, Sergiienko Ruslan, Tomai Takaaki, Shibata Etsuro, Nakamura Takashi, Honma Itaru, Zaulychnyy Yaroslav, Journal of Nanoscience and Nanotechnology 12(12), 8913 (2012).
[7] A. Bostwick, J. McChesney, T. Ohta, E. Rotenberg, T. Seyller, K. Horn, Progress in Surface Science 84, 380 (2009).
[8] V. Lee, L. Whittaker, C. Jaye, K. M. Baroudi, D. A. Fischer, S. Banerjee, Chem. Mater. 21, 3905 (2009).
[9] N. A. Vinogradov, K. Schulte, M. L. Ng, A. Mikkelsen, E. Lundgren, N. Martensson, A. B. Preobrajenski, J. Phys. Chem. 115, 9568 (2011).
[10] D. Ferrah, J. Penuelas, C. Bottela, G. Grenet, A. Ouerghi, Surface Science 615, 47 (2013).
[11] A. Siokou, F. Ravani, S. Karakalos, O. Frank, M. Kalbac, C. Galiotis, Applied Surface Science 257, 9785 (2011).
[12] B. Lesiak, L. Stobinski, A. Malolepszy, M. Mazurkiewicz, L. Kövér, J. Tóth, Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena 193, 92 (2014).
[13] W. S. Hummers, R. E. Offeman, J. Am. Chem. Soc. 80(6), 1339 (1958).
[14] S. J. Wang, Y. Geng, Q. Zheng, J.-K. Kim, Carbon 48, 1815 (2010).
[15] H. C. Schniepp, J.-L. Li, M. J. McAllister, H. Sai, M. Herrera-Alonso, D. H. Adamson, R. K. Prud’homme, R. Car, D. A. Saville, I. A. Aksay, J. Phys. Chem. B, 110(17), 8535 (2006).
##submission.downloads##
Опубліковано
2015-06-15
Як цитувати
Ільків , Б., Петровська, С., Сергієнко, Р., Фоя, О., Ільків, . О., Бондаренко, Т. ., … Зауличний, Я. (2015). Дослідження електронної структури графенових нанолистів методом рентгенівської фотоелектронної спектроскопії . Фізика і хімія твердого тіла, 16(2), 289–292. https://doi.org/10.15330/pcss.16.2.289-292
Номер
Розділ
Наукові статті
